Quadrupole四級桿二次離子質譜儀是一款高性價比且經久耐用的產品，它是研究樣品表面化學成分的理想選擇，適用于研發和工業質量控制應用。

MiniSIMS——屢獲殊榮的臺式二次離子質譜儀（SIMS）表面化學分析系統。
賽恩斯（SAI）公司創新研發的MiniSIMS儀器榮獲歐洲及美國多項殊榮，其中包括R&D100獎。該臺式設備對實驗室空間和配套設施要求極低，卻可全面支持靜態二次離子質譜（Static SIMS）、成像二次離子質譜（Imaging SIMS）以及動態（深度剖面）二次離子質譜（Dynamic SIMS）三種工作模式。結合其高通量分析能力，相較于傳統的超高真空SIMS設備，單個樣品的檢測成本最高可降低90%。

為何選擇 SIMS ？
與多種空間分辨元素分析技術（通常基于單個原子的信息采集）不同，二次離子質譜（SIMS）不僅適用于無機成分分析，還可有效實現有機物種類的空間分布成像。SIMS 的采樣深度顯著小于大多數其他表面分析技術，結合其優異的檢測靈敏度，能夠在較短時間內對薄層結構及界面區域獲取更為精細的化學信息。此外，SIMS 具備區分同一元素不同同位素的能力，并可高效檢測和分析鋰、硼等輕元素，展現出獨特而廣泛的應用優勢。

MiniSIMS 非常適合用于進行表面污染的常規中期檢查，以便在進行后續昂貴的加工步驟之前，將有缺陷的物品撤出。
例如，如果要對某個表面進行涂漆或與其他材料粘合，其清潔度對于涂層質量或粘合強度至關重要。在界面和表面研究中，分析不能被底層材料的信號所淹沒，這就要求所用技術的采樣深度足夠小，以排除這些信號。二次離子質譜（SIMS）是所有表面分析技術中采樣深度最小的技術之一，因此特別適合分析通常覆蓋在預期純凈材料表面的極薄污染層。

Quadrupole四級桿二次離子質譜儀不僅能夠識別無機和元素污染物，而且與許多其他分析技術不同，它還能對可能存在的任何有機污染物進行詳細分析。

MiniSIMS Alpha應用領域:

表面化學

黏附力

分層

印刷適性

表面改性

等離子體處理

痕量分析（表面ppm）

催化劑

同位素分析

表面污染